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絕緣材料測試儀器

電熱老化罐真空電熱老化測試系統(tǒng) 高阻計擊穿電壓測定儀表面體積電阻率測試儀耐電弧測試儀高壓/漏電起痕試驗儀低壓/漏電起痕試驗儀導電與防靜電材料電阻率介電常數(shù)與介質(zhì)損耗測試儀高溫直流測試系統(tǒng)

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HCJDCS-B高頻介電常數(shù)測試儀、北京華測*

更新時間：2023-08-22

型號：HCJDCS-B

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高頻介電常數(shù)測試儀、北京華測*：高頻介損及介電常數(shù)測試儀能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機關(guān)、學校、工廠等單位。主要用于測量玻璃、陶瓷等材料在高頻信號下的介損、介電常數(shù)。
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HCJDCS-A抗震好、高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀

更新時間：2023-08-22

型號：HCJDCS-A

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抗震好、高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀: 高頻介損及介電常數(shù)測試儀能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機關(guān)、學校、工廠等單位。主要用于測量玻璃、陶瓷等材料在高頻信號下的介損、介電常數(shù)。
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HCJDCS-A高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀

更新時間：2023-08-22

型號：HCJDCS-A

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高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機關(guān)、學校、工廠等單位。主要用于測量玻璃、陶瓷等材料在高頻信號下的介損、介電常數(shù)。
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Huace-991導電防靜電材料體積電阻率測試儀

更新時間：2025-07-29

型號：Huace-991

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導電防靜電材料體積電阻率測試儀：在測量導電材料電阻率若采用三電極或二電極測量時會因為電極與被測量材料表面電阻而影響測量準確性，本裝置采用四電極（四點探針或四探針）法測量導電和防靜電材料體積電阻率，可以克服表面接觸電阻造成的誤差影響。
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Huace-991導電塑料體積電阻率試驗儀器

更新時間：2023-12-19

型號：Huace-991

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導電塑料體積電阻率試驗儀器：在測量導電材料電阻率若采用三電極或二電極測量時會因為電極與被測量材料表面電阻而影響測量準確性，本裝置采用四電極（四點探針或四探針）法測量導電和防靜電材料體積電阻率，可以克服表面接觸電阻造成的誤差影響。
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高溫四探針測量系統(tǒng)Huace-600測試儀器

更新時間：2023-12-01

型號：

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操控性好高溫四探針測量系統(tǒng)Huace-600測試儀器，該系統(tǒng)可以測量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜的方塊電阻，該設(shè)備按照單晶硅物理測試方法標準設(shè)計的。
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高溫直流電阻率測試系統(tǒng)

更新時間：2025-09-18

型號：

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高溫直流電阻率測試系統(tǒng)HCGR-12KV： 1、采用超低紋波系數(shù)高壓直流電源，保證測試電壓的穩(wěn)定度。 2、采用保障試驗人員及試驗設(shè)備的； 3、采用吉時利6585皮安表采集電流，采集精度高，量程自動跟隨與切換，可以實時采集電壓、電流、電阻曲線； 4、具備升壓、恒壓等功能于一體，對于研究常溫與高溫下材料的電阻率極為方便
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高溫直流電阻率測試系統(tǒng)HCGR-12KV-北京華測

更新時間：2023-08-29

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高溫直流電阻率測試系統(tǒng)HCGR-12KV-北京華測采集范圍： ●GB/T 10581-2006 絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗方法 ●DL/T 810-2002 ±500kV直流棒形懸式復合絕緣子技術(shù)條件
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