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低頻高壓介電常數介質損耗測試儀

簡要描述：華測儀器HC-Q37a低頻高壓介電常數介質損耗測試儀系統采用12 寸TFT，800*600分辨率，集成觸摸屏電容式觸摸屏，多參數顯示、設置、測試結果、狀態等可以在同一屏顯示，操作簡單。

產品型號：HC-Q37a
廠商性質：生產廠家
更新時間：2026-03-17
訪問量：208

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Product Category

絕緣材料測試儀器

表面電位衰減測試系統/測試儀絕緣材料電阻評價平臺導通電阻測試系統電熱老化罐真空電熱老化測試系統高阻計擊穿電壓測定儀表面體積電阻率測試儀耐電弧測試儀高壓/漏電起痕試驗儀低壓/漏電起痕試驗儀導電與防靜電材料電阻率介電常數與介質損耗測試儀高溫直流測試系統

品牌	華測儀器	產地類別	國產
應用領域	能源,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合

HC-Q37a低頻高壓介電常數介質損耗測試儀系統

價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師

HC-Q37a低頻高壓介電常數介質損耗測試儀系統由華測儀器生產，全套系統是基于電介質介電響應理論，集介電響應測試與絕緣狀態評估及診斷一體的綜合絕緣分析系統，手動與自動模式都操作簡便，軟件輔助試驗準備，執行和趨勢分析；能提供完整的測量系統，包括：標準電容，標準損耗器、測試電極；能測量不同頻率下的類型絕緣材料介電常數及損耗；系統采用高壓功率放大器及鎖相放大器技術。

產品參數

耗散因數(tanδ)：0 ~ 100；顯示分辨率：1x10^-7

功率因數(cosφ)：0 ~ 1；顯示分辨率：1x10^-6

電容：≤10nF(1kHz)

≤1uF(50Hz)

電感：≤ 1 kH

測試電壓：2000V

測試電流@輸入Cn：1pA~ 100 mA

測試電阻：上限100TΩ

測試頻率：1mHz~10kHz

運行溫度：-10~50℃

存儲溫度：-20~50℃

濕度：5~95％相對濕度，不結露

應用領域

例行試驗和型式試驗

電力電纜和附件

固體和液體絕緣

研發與質量控制

高校研究院

電力設備安裝與調試

電力系統監測

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