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塞貝克系數(shù)電阻熱電性能測試儀

簡要描述：華測儀器HC-RD-1100塞貝克系數(shù)電阻熱電性能測試儀是一款簡單易用的材料表征儀器，可以同時測定樣品在RT至1200℃溫度范圍內的塞貝克系數(shù)和電阻率。

產品型號：HC-RD-1100
廠商性質：生產廠家
更新時間：2026-03-26
訪問量：168

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品牌	華測儀器	產地類別	國產
應用領域	能源,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合

HC-RD-1100塞貝克系數(shù)電阻熱電性能測試儀

價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規(guī)格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師

HC-RD-1100塞貝克系數(shù)電阻熱電性能測試儀由華測儀器生產，該產品具有寬溫區(qū)覆蓋、高適應性、多功能集成等特點，主要服務于熱電材料研發(fā)、新能源器件測試及半導體性能分析等領域；該軟件集成計算機控制系統(tǒng)，適配Windows 10/11操作系統(tǒng)，可自動完成信號激勵、數(shù)據(jù)采集、實時處理及結果輸出全流程，并通過可視化界面直觀呈現(xiàn)測試成果，提升了操作便捷性與測試效率。

產品參數(shù)

溫度范圍:RT~800/1100/1200℃

測量原理：塞貝克系數(shù):靜態(tài)直流法;電阻率:四端法

氣氛:惰性、氧化、還原、真空

樣品支架:三明治結構夾于兩電極之間

樣品尺寸(圓柱形或棱柱形):2至5mm(面寬)，23mm，φ6mm，23mm

樣品尺寸(圓盤狀):10、12.7、25.4 mm

可調探頭距離:4、6、8mm

塞貝克系數(shù)測量范圍:1~ 2500uV/K準確度±7%;重復性±3%

電導率測量范圍:0.01~2*10⁵s/cm準確度±5-8%;再現(xiàn)性±3%

電源:0~ 1A，具有長期穩(wěn)定性

電極材料:鎳(-100至500“C)/鉑(-100至+1500°C)

熱電偶:K/S/C型

塞貝克系數(shù)電阻熱電性能測試儀

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