HCCS-4探針臺測試儀

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HCCS-4探針臺測試儀由華測儀器生產(chǎn)，是為材料電學(xué)表征與器件測試研發(fā)的一款輕量化手動探針臺系統(tǒng)，該設(shè)備作為一種輔助執(zhí)行機構(gòu)，主要用于協(xié)助測試人員實現(xiàn)對微小器件或材料樣品的電學(xué)連接，從而完成電性能參數(shù)的測量。

基本工作原理：測試人員將待測器件置于探針臺載物臺（Chuck）上，在顯微鏡觀測下通過X-Y方向移動樣品臺，定位待測區(qū)域。隨后，通過旋轉(zhuǎn)探針座上的X-Y-Z三軸調(diào)節(jié)旋鈕，控制前部探針（直流或射頻探針）扎觸至被測電極點，使器件信號線通過探針與外部測試機（如源表、LCR表、半導(dǎo)體參數(shù)分析儀等）形成導(dǎo)通回路，進而獲取所需的電性能參數(shù)。

產(chǎn)品特點

多場景測試兼容：滿足I-V/C-V特性測試、PIV測試、光電響應(yīng)測試等多種應(yīng)用需求

大尺寸樣品支持：可用于6英寸及以下規(guī)格樣品的測試

準(zhǔn)度傳動：采用同軸絲杠傳動結(jié)構(gòu)，確保探針移動平穩(wěn)線性

環(huán)境適應(yīng)性：結(jié)構(gòu)輕巧，可放置于手套箱內(nèi)使用，滿足多種氣氛環(huán)境測試需求

操作便捷性：人體工學(xué)設(shè)計，旋鈕操作順手，學(xué)習(xí)成本低

應(yīng)用領(lǐng)域

半導(dǎo)體器件測試：二極管、晶體管等基礎(chǔ)器件電學(xué)表征

材料科學(xué)研究：二維材料、鈣鈦礦、半導(dǎo)體等新材料電性能研究

光電測試：光電探測器、太陽能電池的光電響應(yīng)特性測量

失效分析：電子元器件故障定位與原因分析

教學(xué)實驗：高校微電子、物理、材料試驗教學(xué)